点击图片查看原图PXIe-6121是*款单通道高精度多模光衰，衰减范围0dB~40dB，衰减分辨率0.01dB，衰减速度≤20ms/dB，支持光闸功能，支持SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。详询*八*四零六六三四七六
产品特点
▪衰减量程0～40dB，衰减分辨率0.01dB
▪插损小于1.5dB
▪衰减精度±0.1dB_衰减重复性0.05dB
▪衰减响应时间：≤20ms/dB
▪支持输出光功率监控功能
▪支持光闸
▪支持背板触发总线
应用范围
硅光芯片测试
光模块测试
系统和光器件光损耗模拟
选择武汉普赛斯的理由
普赛斯加入PXISA联盟，依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台，PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客户欢迎，经过长期的技术沉淀及软硬件迭代升*，确保生产设计符合PXIe标准的模块化仪器。普赛斯为客户提供全套PXIe测试系统，包含系统卡/远程卡、机箱和各种功能模块板卡，并将持续研发投入，推出更多符合市场需求的功能模块板卡，在此基础上提供测试系统解决方案满足客户需求。
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