点击图片查看原图SPA6100半导体电学特性测试设备ivcv曲线分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件，支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作，能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程，实现**和可重复的器件表征；也可与高低温箱、温控模块等搭配使用，满足高低温测试需求。详询*八*四零六六三四七六
产品特点
30μV-1200V，1pA-30A宽量程测试能力
测量精度高，蕞高可达0.1%
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便
自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线
供灵活的夹具定制方案，兼容性强
免费提供上位机软件及SCPI指令集
典型应用：
纳米、柔性等材料特性分析；
二*管；
MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；
*三代半导体材料/器件；
有机OFET器件；
LED、OLED、光电器件；
半导体电阻式等传感器；
EEL、VCSEL、PD、APD等激光二*管；
电阻率系数和霍尔效应测量；
太阳能电池；
非易失性存储设备；
失效分析；
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